王信

王信，中国科学院新疆理化技术研究所 副研究员，中国科学院青促会会员，中国电子学会会员、IEEE会员、中国核学会会员，主要从事空间用模拟集成电路辐射损伤机理、工艺评估及抗辐射加固技术研究，基于国内主流模拟集成电路工艺线，开展模拟集成电路辐射损伤缺陷的表征及计算、工艺评价、抗加技术及验证性研究。获自治区科技进步一等奖，发表SCI论文20余篇，申请国家发明专利6项，主持国家自然科学基金、中科院西部人才项等项目。